辉光放电质谱(GDMS)技术能够对金属材料中的痕量元素进行高灵敏度分析。在辉光放电离子源中,氩离子在电场作用下轰击金属样品表面,使样品原子溅射出来并离子化,然后通过质谱仪对离子进行质量分析,精确测定痕量元素的种类和含量,检测限可达 ppb 级甚至更低。在半导体制造、航空航天等对材料纯度要求极高的行业,GDMS 痕量元素分析至关重要。例如在半导体硅材料中,痕量杂质元素会严重影响半导体器件的性能,通过 GDMS 精确检测硅材料中的痕量杂质,可严格控制材料质量,保障半导体器件的高可靠性和高性能。在航空发动机高温合金中,痕量元素对合金的高温性能也有影响,GDMS 分析为合金成分优化提供了关键数据。
金属材料在加工过程中,如锻造、轧制、焊接等,会在表面产生残余应力。残余应力的存在可能导致材料变形、开裂,影响产品的质量和使用寿命。表面残余应力 X 射线检测利用 X 射线与金属晶体的相互作用原理,当 X 射线照射到金属材料表面时,会发生衍射现象,通过测量衍射峰的位移,可精确计算出材料表面的残余应力大小和方向。这种检测方法具有无损、快速、精度高的特点。在机械制造行业,对关键零部件进行表面残余应力检测尤为重要。例如在航空发动机叶片的制造过程中,严格控制叶片表面的残余应力,能确保叶片在高速旋转和高温环境下的结构完整性,避免因残余应力集中导致叶片断裂,保障航空发动机的安全可靠运行。

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